kě cè shì xìng shè jì · ㄎㄜˇ ㄘㄜˋ ㄕˋ ㄒㄧㄥˋ ㄕㄜˋ ㄐㄧˋ
| 词语 | 可测试性设计 |
|---|---|
| 拼音 | kě cè shì xìng shè jì |
| 拼音字母 | ke ce shi xing she ji |
| 拼音首字母 | kcsxsj |
| 注音 | ㄎㄜˇ ㄘㄜˋ ㄕˋ ㄒㄧㄥˋ ㄕㄜˋ ㄐㄧˋ |
| 注音符号 | ㄎㄜ ㄘㄜ ㄕ ㄒㄧㄥ ㄕㄜ ㄐㄧ |
| 注音首符号 | ㄎㄘㄕㄒㄕㄐ |
可测试性设计（英语：Design for Testability, DFT）是一种集成电路设计技术，它将一些特殊结构在设计阶段植入电路，以便设计完成后进行测试。
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