yàng pǐn zhì bèi · ㄧㄤˋ ㄆㄧㄣˇ ㄓˋ ㄅㄟˋ
| 词语 | 样品制备 |
|---|---|
| 拼音 | yàng pǐn zhì bèi |
| 拼音字母 | yang pin zhi bei |
| 拼音首字母 | ypzb |
| 注音 | ㄧㄤˋ ㄆㄧㄣˇ ㄓˋ ㄅㄟˋ |
| 注音符号 | ㄧㄤ ㄆㄧㄣ ㄓ ㄅㄟ |
| 注音首符号 | ㄧㄆㄓㄅ |
样品制备在透射电子显微分析技术中占有相当重要的位置。由透射电镜的工作原理可知,供透射电镜分析的样品必须对电子束是透明的,通常样品观察区域的厚度以控制在约100~200 nm为宜。此外,所制得的样品还必须具有代表性以真实反映所分析材料的某些特征,因此,样品制备时不可影响这些特征,如已产生影响则必须知道影响的方式和程度。透射电镜样品制备是一个涉及面很广的题目,方法也很多。选择哪种方法,则取决于材料的类型和所要获取的信息。透射电镜样品可分为间接样品和直接样品.本章仅介绍应用较广的复型、电解双喷、离子薄化等样品制备技术。
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